75株式会社三井化学分析センター
株式会社三井化学分析センター(法人番号 3040001051218)
本社(本部) | 企画管理部/品質保証室 〒 299-0265 千葉県袖ヶ浦市長浦580-32 TEL 0438-64-2400 FAX 0438-64-2402 http://www.mcanac.co.jp 交通アクセス JR 長浦駅 車で5分 |
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地方事業所(支所) |
営業統括部/営業企画室 |
問い合わせ先 | 〒 104-0031 東京都中央区京橋3-7-5 京橋スクエア 営業統括部/営業企画室 TEL 03-5524-3853 FAX 03-3567-8060 |
代表者名 | 代表取締役社長 飯田 司 |
資本金(基本金) | 140百万円 |
従業員 | 485 人 (うち、技術者 417 人) |
主な試験対象製品 | プラスチックス、化成品等 |
原因究明を行う範囲 | 事故品が消失した場合であっても、事故同等品を入手して、製品、部品、材料等の性能・成分の試験をする他、現地調査や事故再現試験を行って、可能な限り総合的に判断する。 |
試験以外の対応 | 電話相談(無料) 技術的相談 現地調査 |
他の機関との連携体制 | あり |
手数料規定 | あり |
調査依頼手続き・方法 | 1.調査依頼の連絡を受ける 2.必要事項確認の上分析試験依頼書の様式を発送又は持参 3.見積書提出(2.に基き) 4.(受注)サンプル受理 5.試験分析結果報告 |
調査(究明)体制の受入
(A:受入可能 B:条件付き受入 C:受入不可能 -:保留)
依頼者 利用目的 |
個人 (依頼弁護士を含む。) |
企業 (依頼弁護士を含む。) |
裁判外紛争 処理機関 |
地方自治体 | 国 | 裁判所 |
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民事紛争処理 (相対交渉の判断材料から裁判における証拠)※ |
B | B | A | |||
行政の紛争処理 (行政が行う調停等) |
B | B | B | B | B | |
裁判所からの鑑定依頼 | A | |||||
行政からの依頼 (行政措置の実施等) |
B | B | ||||
Bの場合の条件:試験内容の条件等が明確になっていること。 | ||||||
※裁判の証拠としての利用は調査の精度として保証できない場合等もある。(ケースバイケースである。) |
製品分野別の原因究明事例
[高分子材料/成形品] | |
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事故 内容 |
外観,割れ・破損,変形,汚れ,燃焼,変退色,耐熱性,耐冷(寒)性,耐油性,気体透過,透湿性,食品衛生法(合成樹脂製器具,包装,おもちゃ,ゴム,ガラス)違反,有害物質含有家庭用品規制法違反,薬事法違反,家庭用品品質表示法違反 |
使用原因 究明機器 |
X線回析装置(XRD),X線光電子分析装置(XPS),核磁気共鳴分光装置(NMR),ゲル浸透クロマトグラフ装置(GPC),高温ゲル浸透クロマトグラフ(GPC),電子プローブ微小部分分析装置(XMA,EPMA),ラマン分析装置,(透過型)電子顕微鏡(TEM),クリーンルーム,イオンクロマト分析装置(IC),ガスクロマトグラフ質量分析計(GCMS),顕微IR装置,顕微ラマン分析装置,液体クロマトグラフ質量分析(LCMS),高周波誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS),高周波誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP-OES),恒温恒湿室,走査プローブ顕微鏡(SPM) |
[台所・家庭用品/台所用品] | |
事故 内容 |
家庭用品(プラスチック製):材質(副資材を含む),バリ・突起によるけが,割れ・破損,変形,汚れ(染顔料・霊菌・食品の移行),変退色,印刷物の剥がれ,耐熱性,耐冷性,耐油性,溶融 |
使用原因 究明機器 |
X線回析装置(XRD),X線光電子分析装置(XPS),核磁気共鳴分光装置(NMR),ゲル浸透クロマトグラフ装置(GPC),高温ゲル浸透クロマトグラフ(GPC),紫外可視分光光度計(UV-Vis), 電子プローブ微小部分分析装置(XMA,EPMA),ラマン分析装置, (透過型)電子顕微鏡(TEM), クリーンルーム, イオンクロマト分析装置(IC), ガスクロマトグラフ質量分析計(GCMS),顕微IR装置,顕微ラマン分析装置,液体クロマトグラフ(LC),液体クロマトグラフ質量分析(LCMS),原子吸光光度計(AA),高周波誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS),高周波誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP-OES), 恒温恒湿室, 走査プローブ顕微鏡(SPM) |
[台所・家庭用品/石鹸・合成洗剤等] | |
事故 内容 |
石鹸・合成洗剤:皮膚障害,喉の炎症,目の炎症,悪寒 |
使用原因 究明機器 |
核磁気共鳴分光装置(NMR), ラマン分析装置, クリーンルーム, イオンクロマト分析装置(IC), 液体クロマトグラフ(LC),液体クロマトグラフ質量分析(LCMS),原子吸光光度計(AA),高周波誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS),高周波誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP-OES) |
お問い合わせ
- 独立行政法人製品評価技術基盤機構 製品安全センター 製品安全広報課
-
TEL:06-6612-2066
FAX:06-6612-1617
住所:〒559-0034 大阪市住之江区南港北1-22-16 地図